膜厚计探头NFe-2.0

膜厚计探头NFe-2.0

产品描述:

物品描述 <应用> 测量有色金属基材(铝、铝合金、铜、奥氏体不锈钢)上绝缘膜的厚度。

  • 发布时间:2025-01-21 07:52:45
  • 产地:日本
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产品描述

物品描述 <应用> 测量有色金属基材(铝、铝合金、铜、奥氏体不锈钢)上绝缘膜的厚度。

产品规格

物品描述 <应用> 测量有色金属基材(铝、铝合金、铜、奥氏体不锈钢)上绝缘膜的厚度。 模型 NFe-2.0 测量范围 有色金属底座0~2.00mmmm 测量方法 涡流式 显示分辨率 1μm(0~999μm) 0.1μm(0~400μm)切换 0.5μm(400~500μm) 0.01mm(1.00~2.00mm) 测量精度(光滑表面) 0~100μm:±1μm或示值的±2% 101μm~2.00mm:±2% 探测 1点恒压接触式,带V切口 φ15×47mm 耐热性:200℃ 配件 标准厚板、测试用零板(用于有色金属基材) 数量 一