膜厚计探头FN-325

膜厚计探头FN-325

产品描述:

物品描述 <应用> 这是结合了电磁探头和涡流探头的两用型,可自动识别被测材料并测量膜厚。也可以手动切换。

  • 发布时间:2025-01-22 11:44:31
  • 产地:日本
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产品描述

物品描述 <应用> 这是结合了电磁探头和涡流探头的两用型,可自动识别被测材料并测量膜厚。也可以手动切换。

产品规格

物品描述 <应用> 这是结合了电磁探头和涡流探头的两用型,可自动识别被测材料并测量膜厚。也可以手动切换。 模型 FN-325 测量范围 铁基:0~3.00 有色金属底座:0~2.50mm 测量方法 适用于电磁型和涡流型 显示分辨率 1μm(0~999μm) 通过切换:0.1μm(0~400μm)、0.5μm(400~500μm) 铁基:0.01mm(1.00~3.00mm) 有色金属底座:0.01mm(1.00~2.50mm) 测量精度(光滑表面) 黑色金属和有色金属基材共有:0 至 100 µm:± 1 µm:或指示值的 ± 2% 铁基:101μm~3.00mm:±2% 有色基材:101μm~2.50mm:±2% 探测 1点恒压接触式,带V切口 φ15×50.9mm 配件 测试用标准厚板/零板(黑色金属和有色金属) 数量 一