膜厚计探头Fe-2.5

膜厚计探头Fe-2.5

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物品描述 <应用> 无损测量黑色金属基材(铁、钢、铁素体不锈钢)上的涂层和衬里等绝缘涂层和非磁性金属涂层的厚度。

  • 发布时间:2025-01-19 21:12:21
  • 产地:日本
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物品描述 <应用> 无损测量黑色金属基材(铁、钢、铁素体不锈钢)上的涂层和衬里等绝缘涂层和非磁性金属涂层的厚度。

产品规格

物品描述 <应用> 无损测量黑色金属基材(铁、钢、铁素体不锈钢)上的涂层和衬里等绝缘涂层和非磁性金属涂层的厚度。 模型 铁-2.5 测量范围 铁基:0~2.50mmmm 测量方法 电磁 显示分辨率 1μm(0~999μm) 0.1μm(0~400μm)切换 0.5μm(400~500μm) 0.01mm(1.00~2.50mm) 测量精度(光滑表面) 0~100μm:±1μm或示值的±2% 101μm~2.50mm:±2% 探测 1点恒压接触式,带V切口 φ15×47mm 耐热性:200℃ 配件 标准厚板、测试用零板(铁) 数量 一

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