Kett Scientific 薄膜厚度计 Elnix 8500Basic 无线双探头

它是一款便携式膜厚计，可以测量厚漆膜和R面，具有可用于广泛领域的性能。由于探头是可拆卸的，因此即使在测量难以到达的狭窄区域或以各种角度按压探头时，也可以顺利进行测量。此外，由于预先注册了基本校准，因此只需调整零点即可立即开始测量，无需准备。它还配备了薄膜厚度测量的有用功能，例如上限和下限设置以及统计计算处理。操作画面以日语显示，即使是初次使用的用户也能轻松上手。只需将传感器按在基板上一次，同时遵循交互式屏幕显示，即可轻松执行测量前的零点调整。无线双探头兼容黑色金属和有色金属基材，无需使用电线连接，可将数据无线传输至主机。它还自动识别基材。测量范围高达5000μm，因此可以测量桥梁施工中使用的厚漆膜。还有一种高级型可以在膜厚计本身中存储更多的测量数据。它还具有比基本型更多的功能，例如连续测量和切换分辨率显示。