膜厚仪迷你测试650N

膜厚仪迷你测试650N

产品描述:

传感器尖端采用耐磨性优异的材料。外壳边缘附有保护橡胶,可减少跌落或碰撞时的损坏。由于探头是有线的,因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。具有统计显示功能。 (测量次数、平均值、标准偏差、最大值、最小值) 配备液晶背光。

  • 发布时间:2024-11-10 05:54:17
  • 产品代码:0694681932
  • 制造商:650N
  • 产地:日本
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产品描述

传感器尖端采用耐磨性优异的材料。外壳边缘附有保护橡胶,可减少跌落或碰撞时的损坏。由于探头是有线的,因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。具有统计显示功能。 (测量次数、平均值、标准偏差、最大值、最小值) 配备液晶背光。

产品规格

模型 650N
测量范围 0~2000μm
测定方式 涡流式
规格 测量精度:±(2μm+读数的2%) 最小分辨率:1μm 最小测量凸曲率:5mm半径 最小测量凹曲率:25mm半径 最小测量面积:20mm直径 最小测量基材厚度:0.5mm 测量显示单位:μm、mm /mils 校准模式:1 点校准、2 点校准 统计显示:测量次数(最多 9999 次)、平均值、标准偏差、最小值、最大值 电源:AAA 电池 x 3 尺寸:主机 70 x 122 x 32 毫米;探头直径 15 x 62 毫米 重量:225 克 附件:调零板、参考板、AAA 电池 x 3、使用说明书、存储盒

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