膜厚计 Minitest 730 F1.5
产品描述：
由于探头是有线的，因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台（单独出售）测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”，现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示，操作简单。 （支持25种语言显示） 统计功能模式下，可以显示测量次数、测量值、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、块统计等。测量数据可以使用红外通信 (IrDA) 以无线方式传输至 PC 或专用打印机。 （需要单独出售的 USB 红外适配器） 可以根据包括 ISO 在内的国际标准进行校准设置。您可以设置测量速度。 （标准、高速、精密）如果设置了上下限，当测量值超出或超出设定范围时，将以声音和灯光通知您。
- 发布时间：2024-11-15 14:04:05
- 产品代码：0694681911
- 制造商：730F1.5
- 产地：日本
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产品描述
由于探头是有线的，因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台（单独出售）测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”，现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示，操作简单。 （支持25种语言显示） 统计功能模式下，可以显示测量次数、测量值、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、块统计等。测量数据可以使用红外通信 (IrDA) 以无线方式传输至 PC 或专用打印机。 （需要单独出售的 USB 红外适配器） 可以根据包括 ISO 在内的国际标准进行校准设置。您可以设置测量速度。 （标准、高速、精密）如果设置了上下限，当测量值超出或超出设定范围时，将以声音和灯光通知您。
产品规格
| 模型 | 730F1.5 |
|---|---|
| 测量范围 | 0~1.5ｍｍ |
| 测定方式 | 电磁诱导式 |
| 规格 | 测量精度：±(1μm+0.75%) 最小分辨率：0.05μm 最小测量凸凸面：1.0mm 使用外部探头的最小测量凹凸面：7.5mm 最小测量面积：φ5mm 最小基材厚度：0.3mm 连续测量次数测量：单独测量 20 次/秒时最大测量：70 次/分钟电源：AA 碱性电池 x 2 尺寸/重量：157 x 75.5 x 49Hmm/约 210g |
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