膜厚仪迷你测试735F15

由于探头是有线的，因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台（单独出售）测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”，现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示，操作简单。 （支持25种语言显示） 统计功能模式下，可显示测量次数、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、分块统计。测量数据可以通过蓝牙或USB电缆传输到PC或专用打印机。校准设置可以根据国际标准（包括 ISO）进行。您可以设置测量速度。 （标准、高速、精密）如果设置了上下限，当测量值超出或超出设定范围时，将以声音和灯光通知您。