膜厚计 Minitest 730 F5

膜厚计 Minitest 730 F5

产品描述:

由于探头是有线的,因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台(单独出售)测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”,现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示,操作简单。 (支持25种语言显示) 统计功能模式下,可以显示测量次数、测量值、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、块统计等。测量数据可以使用红外通信 (IrDA) 以无线方式传输至 PC 或专用打印机。 (需要单独出售的 USB 红外适配器) 可以根据包括 ISO 在内的国际标准进行校准设置。您可以设置测量速度。 (标准、高速、精密)如果设置了上下限,当测量值超出或超出设定范围时,将以声音和灯光通知您。

  • 发布时间:2024-11-14 04:39:27
  • 产品代码:0694681915
  • 制造商:730F5
  • 产地:日本
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产品描述

由于探头是有线的,因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台(单独出售)测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”,现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示,操作简单。 (支持25种语言显示) 统计功能模式下,可以显示测量次数、测量值、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、块统计等。测量数据可以使用红外通信 (IrDA) 以无线方式传输至 PC 或专用打印机。 (需要单独出售的 USB 红外适配器) 可以根据包括 ISO 在内的国际标准进行校准设置。您可以设置测量速度。 (标准、高速、精密)如果设置了上下限,当测量值超出或超出设定范围时,将以声音和灯光通知您。

产品规格

模型 730F5
测量范围 0~5.0mm
测定方式 电磁诱导式
规格 测量精度:±(1.5μm+0.75%) 最小分辨率:0.1μm 最小测量凸曲面:1.5mm 使用外部探头的最小测量凹曲面:10mm 最小测量面积:φ10mm 最小基材厚度:0.5mm 连续测量次数测量:单独测量 20 次/秒时最大测量:70 次/分钟电源:AA 碱性电池 x 2 尺寸/重量:157 x 75.5 x 49Hmm/约 210g

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由于探头是有线的,因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台(单独出售)测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”,现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示,操作简单。 (支持25种语言显示) 统计功能模式下,可以显示测量次数、测量值、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、块统计等。测量数据可以使用红外通信 (IrDA) 以无线方式传输至 PC 或专用打印机。 (需要单独出售的 USB 红外适配器) 可以根据包括 ISO 在内的国际标准进行校准设置。您可以设置测量速度。 (标准、高速、精密)如果设置了上下限,当测量值超出或超出设定范围时,将以声音和灯光通知您。
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