分体铝基涂层测厚仪YT4200-P7

分体铝基涂层测厚仪YT4200-P7简介

 

  

a.可快速、准确测试多种非磁性金属基体(涡流法)上的绝缘涂层厚度;

b.探头和主机分离，适应性更强;

c.一键测试，方便快捷;

d.可采用单点校准和多点校准两种方法对仪器进行精确校准;

e.低功耗更省电，低电量报警;

f.带背光显示屏，蜂鸣器提示;

g.高耐磨探头，不低于80万次测量;

h.多种测量模式:单点测量、连续测量;

 

分体铝基涂层测厚仪YT4200-P7简介

 

产品型号	YT4200-P7
产品名称	分体铝基涂层测厚仪
符合标准	ASTM B499,ASTM D1400; ISO 2178,ISO 2360，ISO 2808; GB/T 4956/4957,JB/T 8393
基体	NFe
探头形式	分体式
分辨率	0.1/1μm
测量范围	0~1250μm
测量精度	零点校正:±(3%H+1)μm； 两点校正:±(1~3%H+1.5)μm； 注:H为样品厚度
小测量尺寸	10×10mm
小测量厚度	非磁性：0.05mm
小曲率	凸面半径5mm；凹面半径10mm
显示单位	μm
存储容量	/
统计功能	/
蓝牙	/
电源	2节5号电池(AA碱性电池或镍氢充电电池);
尺寸	102×66×24mm
重量	99g(含电池)
品质软件	/
工作温度	0~40ºC(10~90%RH无凝露)
储存温度	-10~50ºC
标准附件	基体1块(铝基体),腕带，校准试片
可选附件	校准试片(12μm,25μm)
注：	技术参数仅为参考，以实际销售产品为准