薄膜厚度计迷你测试735F5

薄膜厚度计迷你测试735F5

产品描述:

由于探头是有线的,因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台(单独出售)测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”,现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示,操作简单。 (支持25种语言显示) 统计功能模式下,可显示测量次数、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、分块统计。测量数据可以通过蓝牙或USB电缆传输到PC或专用打印机。校准设置可以根据国际标准(包括 ISO)进行。您可以设置测量速度。 (标准、高速、精密)如果设置了上下限,当测量值超出或超出设定范围时,将以声音和灯光通知您。

  • 发布时间:2024-11-15 00:45:32
  • 产品代码:0694681944
  • 制造商:735F5
  • 产地:日本
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产品描述

由于探头是有线的,因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台(单独出售)测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”,现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示,操作简单。 (支持25种语言显示) 统计功能模式下,可显示测量次数、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、分块统计。测量数据可以通过蓝牙或USB电缆传输到PC或专用打印机。校准设置可以根据国际标准(包括 ISO)进行。您可以设置测量速度。 (标准、高速、精密)如果设置了上下限,当测量值超出或超出设定范围时,将以声音和灯光通知您。

产品规格

模型 735F5
测量范围 F/0~5.0mm
测定方式 电磁诱导式
测量精度 ±(1.5μm+0.75%)
最小分解能 0.1μm
最小测量弧凸面 1.5毫米
使用的最小测量弯曲凹面外部探头 10毫米
最小测定面积 φ10mm
最小基材厚度 0.5毫米
连续测量时的测量次数 20回/秒
单独测量时的最大测量次数 70次/分钟
电源 AA 碱性电池 x 2
尺寸 宽157×深75.5×高49mm
重量 约210克
数量 1台

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由于探头是有线的,因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台(单独出售)测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”,现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示,操作简单。 (支持25种语言显示) 统计功能模式下,可以显示测量次数、测量值、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、块统计等。测量数据可以使用红外通信 (IrDA) 以无线方式传输至 PC 或专用打印机。 (需要单独出售的 USB 红外适配器) 可以根据包括 ISO 在内的国际标准进行校准设置。您可以设置测量速度。 (标准、高速、精密)如果设置了上下限,当测量值超出或超出设定范围时,将以声音和灯光通知您。
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