膜厚仪迷你测试735FN1.5
产品描述：
由于探头是有线的，因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台（单独出售）测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”，现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示，操作简单。 （支持25种语言显示） 统计功能模式下，可显示测量次数、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、分块统计。测量数据可以通过蓝牙或USB电缆传输到PC或专用打印机。校准设置可以根据国际标准（包括 ISO）进行。您可以设置测量速度。 （标准、高速、精密）如果设置了上下限，当测量值超出或超出设定范围时，将以声音和灯光通知您。
- 发布时间：2024-11-15 12:15:06
- 产品代码：0694681943
- 制造商：735FN1.5
- 产地：日本
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产品描述
由于探头是有线的，因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台（单独出售）测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”，现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示，操作简单。 （支持25种语言显示） 统计功能模式下，可显示测量次数、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、分块统计。测量数据可以通过蓝牙或USB电缆传输到PC或专用打印机。校准设置可以根据国际标准（包括 ISO）进行。您可以设置测量速度。 （标准、高速、精密）如果设置了上下限，当测量值超出或超出设定范围时，将以声音和灯光通知您。
产品规格
| 模型 | 735FN1.5 |
|---|---|
| 测量范围 | F/0~1.5N/0~0.7mm |
| 测定方式 | 电磁诱导式涡电流式 |
| 测量精度 | ±(1μm+0.75%) |
| 最小分解能 | 0.05μm |
| 最小测量弧凸面 | 1.0毫米 |
| 使用的最小测量弯曲凹面外部探头 | 7.5毫米 |
| 最小测定面积 | φ5mm |
| 最小基材厚度 | F：0.3mmN：40μm |
| 连续测量时的测量次数 | 20回/秒 |
| 单独测量时的最大测量次数 | 70次/分钟 |
| 电源 | AA 碱性电池 x 2 |
| 尺寸 | 宽157×深75.5×高49mm |
| 重量 | 约210克 |
| 数量 | 1台 |
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由于探头是有线的，因此适合测量主体无法安装的狭窄区域。您还可以使用精密测量台（单独出售）测量极小的零件。您可以根据被测物体的膜厚和底座的材质来选择。采用Electrophysical公司的专有技术“SIDSP®技术”，现在可以比传统产品进行更高精度的测量。画面为日文显示，操作简单。 （支持25种语言显示） 统计功能模式下，可显示测量次数、最大值、最小值、平均值、标准差、变异系数、分块统计。测量数据可以通过蓝牙或USB电缆传输到PC或专用打印机。校准设置可以根据国际标准（包括 ISO）进行。您可以设置测量速度。 （标准、高速、精密）如果设置了上下限，当测量值超出或超出设定范围时，将以声音和灯光通知您。
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